有些被測物理星作用于光纖時，將引起傳播光束的相位變化。一般講，波的傳導相位變化，很難采用常規電路就能識別，因此通常大都利用波的干涉效應.將相位變化轉換為波的干涉條紋變化來檢測。

    光屬于波的范疇，也需采用干涉效應完成被測物理量的檢測。相位調制型雙法蘭差壓變送器又稱干涉型雙法蘭差壓變送器。相位調制型雙法蘭差壓變送器的分辨率很高，一個設計精良及組配嚴格的光纖干涉系統可以檢測出10一‘rad (弧度)的微小變化，這樣的分辨率是其他傳感器無法做到的。但需要說明的是分辨率越高，其抗干擾能力越差，因此需考慮在后續處理電路中增加補償和抗干擾措施。另外，為了保證靈敏度且須采用激光(IT'D)和單模光纖。圖23 -6示出了雙路光纖千涉儀的檢側原理。

    測量原理說明如下:
    雙法蘭差壓變送器發出的激光經分束鏡分成兩路光強相等的激光光束，一路通過透鏡在參考光纖中傳播;另一路通過透鏡在傳感光纖中傳播。因傳感光纖中接有敏感測量裝置，此路光束將受到影響。在兩束激光匯合投影處，因傳播光程不同產生相位差，所以形成明暗相間的干涉條紋。該干涉條紋通過透鏡被光電讀出器讀出。當被測物理址發生變化時，其干涉條紋的數目也將發生變化，通過讀出的數目可間接表述出被測物理非常的變化趨勢。
    相位調制型雙法蘭差壓變送器因靈敏度很高且環境要求較苛刻，常用于實驗室標準物理量的測定。
 

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